This is an online event
The present workshop is an initiative
of the DIGILAB working group of the IperionHS project (https://www.iperionhs.eu/), Resinfra-EU-LAC (https://resinfra-eulac.eu/about/) and ANTECIPA (http://lacicor.eba.ufmg.br/antecipa/); as part of the SEM-EDS data
interoperability pilot.
The basic concepts of Scanning
Electron Microscopy (SEM) and chemical element identification using x-ray
spectrometers (EDS: Energy Dispersive X-ray Spectrometer, and WDS: Wavelength
Dispersive X-ray Spectrometer) will be discussed and demonstrations with
practical aspects plus practical aspects of data interoperability and good
practices will be addressed.
The main lecturer is Prof. Dr. Nestor
Zaluzec (https://www.anl.gov/profile/nestor-j-zaluzec) from Argonne National Laboratory,
Northern Illinois University and University of Illinois at Chicago. Dr.
Nicholas Ritchie (https://www.nist.gov/people/nicholas-ritchie ) from NIST will also give a talk.
And the practical demonstrations sessions will be performed at Centro de
Microscopia da UFMG (www.microscopia.ufmg.br ).
Everyone is welcome to participate and
interact. There will be time for questions and answers Unanswered questions due
to lack of time will be answered by email. The name, email and institution of
the participants will be shared with the other participants to stimulate
interaction.
On the tentative program, especially
the demonstration sessions might suffer slight time shifts depending on the
interest and discussions.
The official language of the workshop
will be English. Schedule time zone is Brasilia, which is 3 hours ahead of
Chicago and 4 hours behind Central Europe (Brussels, Rome, etc.)
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O presente workshop é
uma iniciativa do grupo de trabalho DIGILAB do projeto IperionHS (https://www.iperionhs.eu/), Resinfra-EU-LAC (https://resinfra-eulac.eu/about/) e ANTECIPA (http://lacicor.eba.ufmg.br/antecipa/), como parte do
piloto de interoperabilidade de dados de MEV-EDS.
Conceitos básicos de
Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e identificação de elementos químicos
utilizando espectrômetros de raio-X (EDS: espectrômetro de raio-X de energia
dispersiva e WDS: espectrômetro de raio-X de comprimento de onda) serão
abordados, com a realização de demonstrações práticas e a discussão de aspectos
de interoperabilidade de dados e boas práticas.
O palestrante
principal é o prof. Dr. Nestor Zaluzec do Laboratório Nacional de Argonne e da
Universidade Northern Illinois e da Universidade de Illinois em Chicago. O dr.
Nicholas Ritchie do NIST também irá proferir uma palestra. As demonstrações
práticas serão realizadas no Centro de Microscopia da UFMG (www.microscopia.ufmg.br ).
Todos são convidados a
participar e interagir. Há tempo reservado para perguntas e respostas. Perguntas
não respondidas devido a falta de tempo serão respondidas por email. O nome,
email e instituição do participante será compartilhado com os outros
participantes para estimular as interações.
No programa, em
especial nas demonstrações práticas, poderá haver ligeiras mudanças de horário
dependendo do interesse e discussões.
A língua oficial do
workshop será inglês. Os horários do programa estão no fuso horário de
Brasília, que se encontra 3 horas à frente de Chicago e 4 horas atrás da Europa
Central (Bruxelas, Roma, etc).
